LAwave®薄膜和材料表面的无损检测仪，利用脉冲激光诱导的声表面波无损 检测薄膜的弹性模量（杨氏模量），密度和厚 度。甚至可以表征多孔薄膜和表面存在微结构 的薄膜。 徃测薄膜的厚度可以低至几个纳米；徃测薄 膜可以是超硬薄膜，如DLC类金刚石薄膜，也可以是超软薄膜，如聚合物薄膜。对于表面粗 糙度丌太好的热喷涂涂层也可以通过低频声波 测量。 薄膜弹性模量的测定有着广泛的应用需求， 是决定薄膜机械性能的重要指标，是薄膜内部 原子键合大小的重要标志。微结构和内部孔隙 会导致薄膜内部原子键合的缺失，相应的杨氏 模量也会发生变化，利用这一对应关系，可以 对薄膜中的孔隙和缺陷进行评估。

产品特点 ：

• 无损测量；

• 薄膜厚度：几纳米到几百微米；
  

• 薄膜种类：聚合物到金刚石；

• 测量时间：小于一分钟 ；
  

• 高重复性；
  

• 操作简单，配置紧凑 ；
  

• 测试区域：最小 5×5 mm ；
  

• 对薄膜几何形状没有要求；
  

• 对薄膜平整度要求低；

• 国际认证测量标准 EN 15042-1。

参考链接：http://www.itms-tech.com/product/show-83.aspx